　影响涂层测厚仪测量值精度的因素

日期：2024-05-09 15:44

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摘要：

　影响涂层测厚仪测量值精度的因素

使用仪器时应当遵守的规定

　　a 基体金属特性

　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　b 基体金属厚度

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

　　c 边缘效应

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　d 曲率

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　e 读数次数

　　通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

　　f 表面清洁度

　　测量前，应**表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质

　　涂层测厚仪中F，N以及FN的区别：

　　F代表ferrous铁磁性基体，F型的涂层测厚仪采用电磁感应原理，来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。

　　N代表Non-ferrous非铁磁性基体，N型的涂层测厚仪采用电涡流原理；来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。

　　FN型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理，又采用采用电涡流原理，是F型和N型的二合一型涂层测厚仪。用途见上。如CM8825F是指只有一个F探头的磁性测厚仪；

　　CM8826FN是指带有两个探头的磁性和涡流两用型二合一涂层测厚仪。