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简单介绍：
GCK-I光辐射自动测控仪/光辐射仪 GCK-I
GCK-I光辐射自动测控仪/光辐射仪 GCK-I
GCK-I光辐射自动测控仪/光辐射仪 GCK-I
详情介绍：
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GCK-I光辐射自动测控仪/光辐射仪 GCK-I
GCK-I光辐射自动测控仪
本仪器适用于实时监测曝光量或曝辐量。用户可以根据工作需要设定预置值，仪器在监测量达到预置值时发声报警。该仪器可广泛应用于材料老化、紫外**、光化学、大规模集成电路光刻等领域。
主要性能和技术指标：
1．测量波段与量程：
主要性能和技术指标：
1．测量波段与量程：
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测量范围
（nm）
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峰值波长
（nm）
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量 程
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主要用途
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辐照度
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曝光（辐）量
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350—1050
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半 宽
400—1000
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999 mW/cm2
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9999.9 MJ/m2
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材料老化
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230—290
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254
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9.99 mW/cm2
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999.99 mJ/cm2
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紫外**
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320—400
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365
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9.99 mW/cm2
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999.99 mJ/cm2
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印刷、光刻
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380—460
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420
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9.99 mW/cm2
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999.99 mJ/cm2
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印刷
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注：表中所列为常用波段和量程，用户选购仪器时要首先确认工作波段以及量程。用户也可选择其它波段，例如峰值波长为313nm或340nm，但是要提前就主要技术指标与技术部沟通，双方确认后再签购销合同。定制产品原则上不予退货。
2．仪器显示：本仪器有两个LED显示窗口，其中光辐照度显示3位，
曝光量显示5位，两窗口的量程由用户参照上表确定。
3．光辐照度及曝光量精度：±5% （相对于NIM标准）
4．使用环境：温度：20℃±20℃ 湿度 <80%
使用光纤传光束时，试验箱的温度可达到80℃左右。
5．电源：AC 220V
